本技術源自於黃建彰教授執行多家公司產學案的綜合成果，主要是針對多層印刷電路板各種傳輸線－包括Microstrip、Stripline、Grounded Coplanar Waveguide (CPWG)等，量測其傳輸線傳播常數與特性阻抗，比較其優劣。下圖為目前本項技術的實驗結果。